鑑定報名資格

初選：

(一) 應符合下列三項報名資格其中之一： 1. 通過本市國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置之應屆畢業生，須持續接受資賦優異教育相關服務，且114學年度已向本市國中完成入學報到者。 2. 通過本市114學年度國民小學資賦優異學生縮短修業年限鑑定之應屆畢業生，且114學年度已向本市國中完成入學報到者。 3. 具有一般智能資賦優異潛能之應屆畢業生，六年級第一學期學校舉辦之國語、數學及自然科學三科定期評量平均成績，各自轉換為標準分數（T分數，計算至小數點第4位，第5位四捨五入）後加總，達全校六年級學生前15%（扣除上述第1項資優學生人數），且114學年度已向本市國中完成入學報到者。

(二) 鑑定報名資格須經各國小特殊教育推行委員會完成檢核，並經各就讀國中(以下簡稱各國中)特殊教育推行委員會初審通過。

(三) 實驗教育（含在家自學）學生若不具備第1項及第2項報名資格，需於簡章公告後，參加設籍學校舉辦之最近一次定期評量，評量結果符合第3項報名資格規定，並經各校特殊教育推行委員會審核通過（為避免影響原校內學生報名權益，名額採外加計算），且114學年度已向本市國中完成入學報到者。